| | YTDFWANGWEI- 积分:109874
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积分:109874 版主 | | | 这个的好好理解理解,这个尖峰电压应该是在漏感上产生的吧?等我想想啊。 |
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| | | | | 还是要理解基础理论,变压器实际上应是一个理想变压器初级串一个漏感次级串一个漏感,你重新画下原理再分析,就不会再有疑惑了。 |
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| | | | | | | | | 漏感是不传递能量的,也就是说,初级的漏感不会对次级产生影响。在mos关断前,需要传递的能量全部储存在理想变压器的初级了。 |
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| | | | | | | | | | | | | 以变压器1:1为例。MOS关断后,漏感和初级电感共同给漏源电容充电,当达到两倍输入电压时,变压器次级给负载供电,初级漏感继续给漏源电容充电,形成尖刺。漏感与漏源电容阻尼振荡结束后,漏源电压恢复为两倍输入电压。
不知可否理解 |
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| | | | | | | | | | | | | | | 变压器初级电压+变压器初级电压=MOS漏源电压,对不?
这时候,漏源电压形成尖刺,变压器初级绕组,必然会有相反的尖刺。
通过变比耦合到次级,而次级电压此时会被嵌位,是个固定的电压。
何解? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | 由:输入电压+反射电压+漏感电压=MOS管漏源电压。
得出:变压器电压=输入电压-MOS管漏源电压
=输入电压-(输入电压+反射电压+漏感电压)
= -(反射电压+漏感电压)
通过变比耦合到次级,而次级电压此时会被嵌位,是个固定的电压。
何解?-----------(漏感电压是个非固定的变数) |
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积分:109874 版主 | | | | | | | | | | | 输入电压+反射电压+漏感电压=MOS管漏源电压。
得出:变压器电压=反射电压=MOS管电压-漏感电压-输入电压
。。。。不懂你想说明什么 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 我将9楼Zkybuaa的意思用数学公式体现出来了。。。。。
本贴开始讨论之一:初级漏感的电压对次级输出电压的影响。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 老兄,我13楼抄的是将你12楼的公式,随后仅变了个形。。。。。。。 |
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积分:109874 版主 | | | | | | | | | | | | | | | | | 变压器的电压等于MOS管电压-输入电压。但这个变压器不是理想变压器。这个电压除以变比不是副边电压。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 我那公式中,是少写了一个漏感电压。初级电压回路公式很容易列出来。
但mos关关断之后的能量传输过程,变压器次级电压始终等于输出电压,因为反激是采用峰值整流方式。
但楼上的兄弟说,能量开始传输之后,mos漏源电压依然在变。
根据你列出的公式,可得出 反射电压+漏感电压在变,而反射电压Vo=Vo*N,是不变的。
这说明什么漏感电压始终在变? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 推测一下是这样断的句吧,,,,哈哈哈
这说明什么?而漏感电压始终在变。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 我的理解是这样的:反射电压是次级输出通过匝比反射到初级的电压,肯定是不变的,变的是漏感电压
变化的原因,上面的兄弟说了,是因为漏感与MOS的DS电容以及变压器的分布电容谐振造成的 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 漏感的电压怎么来的我想不用再解释,大家都明白。关键是:它的存在对次级输出是否带来影响?理由是什么? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 漏感电流和初级电流是串联的,始终相等。
而初级电流和次级电流满足匝比关系,
所以说漏感对次级输出没影响,就有点不靠谱。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 讨论已经偏离了主题,我指的是漏感不会对输出电解造成冲击 |
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此图为变压器的实际模型,Lk为漏感、Lm为励磁电感,漏感上的能量如何能通过变压器传递到次边呢?
当漏感为0,即Lk短路,励磁电感无限大,即Lm开路,则变压器就是我们在课本上学了好多年的理想变压器了。 |
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| | | | | | | | | | | 反激变压器模型可不是这样的哦,没有理想变压器,是耦合电感。 |
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| | | | | | | | | | | | | 尖峰吸收过的,影响能量的传递吧,还有效率也会降低,是不? |
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| | | | | | | | | | | | | 不论反激还是正激,变压器模型就是这个模型,就算LLC集成漏感的变压器也是这个模型,只不过是工作方式和能量传递的过程不一样(一个是通过励磁电感来储存能量,再进行反极性转换;一种是直接进行转换)。
前面讨论的漏感的吸收和效率的关系,是因为在关断瞬间,由于漏感上的电流和MOS是串联起来的,如果漏感上的电流下降速度相当快,则在MOS上电流和电压重叠的面积就越小,这样关断损耗会小很多。而漏感上的电流下降速度是由RCD上C的电压与反射电压之差决定的:Ic=-(Vm-Vc)/Lk+I0,所以此差越大,电流下降速度越快,造成MOS的关断损耗会变小,效率得到提高。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | Ic=-(Vm-Vc)/Lk+I0 有点问题 ,左右量纲都不一样,但你表达的意思还是很明白的。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | 呵呵、确实不对,少写了个t,应该是Ic=-(Vm-Vc)t/Lk+I0 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | 我帮你总结一下:
漏感吸收电压大了,对MOS管的耐压带来压力。带来的好处是:加快了MOS电流归零速度,减小了截止交越损耗,提高转换效率。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 你大概是想说:MOS关断的时间由MOS驱动源,R,Cgs决定吧。。。。。。。
老兄,你不要老是直接给出“结论”,你也要给出支持结论的理由,过程分析,才能让人信服和接受呀。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 关断时间当然不受漏感影响,我想你没看懂我说的意思。
关断时间当然是一定的,我的意思是在这个期间电流与电压有一个交叉的区间,而这个区间电流与电压的面积就是关断损耗,关断的时候,电压线性上升,上升到VDS时、电流才开始线性下降,然后一直到0,关断过程结束。可以想象,当电流下降的斜率不同,那么它与电压包围的面积也不同,这就是损耗的不同。
在一些设计中有人刻意增加MOS的结电容,用来缓冲DS两端电压的上升速度,以降低V与I包围的面积,就是这个目的(当然,同时也存在负面效应)。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 有两个问题请教一下:
1.关断的时候,电压线性上升,上升到VDS时、电流才开始线性下降,然后一直到0,关断过程结束。
你写的VDS = 多少?是 =输入电压+反射电压吗(假如:CCM )?
2. 漏感吸收电压高了,截止时MOS 的Vds电压会增加,这增加了MOS Cds能量,那么开通的时候损耗会增加。按照你的分析,虽然截止的时候损耗减少但增加了开通的损耗,按下葫芦浮起了瓢。。。。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 老兄,干脆你重开一贴,讨论下反激MOS关断后的工作状态得了。
最好有联系实际测量波形。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 第一个问题:我说的关断过程是指MOS硬关断的过程,如果你要用在这个反激的讨论中,那么VDS=输入+反射+漏感尖峰。
第二个问题:漏感吸收电压高低和MOS管导通时的电压有关系吗?君不见漏感尖峰只是在关断后一小段时间内就与MOS输出电容振荡结束了吗,等到开通的时候,VDS=输入+反射(CCM模式下,DCM下则是不确定的,因为后面波形为励磁电感后MOS输出电容一起谐振的波形,而这个波形是根据L和C的值不同而不同的,反激准谐振模式就是根据这个来的),何来你说的葫芦和瓢?
附图一张吧:
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 不好意思,我弄错了。下午脑袋不清醒还误认为漏感尖峰一直在那儿呢。。。。。谢谢。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 兄前面的说法是没错的。
MOS的DS并联电容后,在开通的时候,并联电容上的储能是消耗在开关管内部的,也就增加了导通损耗。要不然按照前面兄台的说法,只要在开关管的DS并联电容,就可以实现零电压关断了,岂不是更好?但事实上,我们很少这么做。就因为这么做会增大导通损耗。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 但某些时候在MOS的DS并联电容后,EMI会好过点(这前提是牺牲点效率)~~~
以下理解不知对不,望矫正~~~谢谢!
MOS的DS并联电容后,等效于加大Coss电容,MOS管关断时,此电压上升率为dVDS/dt,
Coss加大,dvds/dt就变小,故可以在一定条件下抑制高频干扰~~~ |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 将你的话,图示化
1. 红色:MOS 的 Id-s电流曲线。(C点,C' 点画的太长了,应该在漏感尖峰震荡结束时,电流衰减到零)
2. MOS 截止交越损耗能量:三角形ABC ,ABC’的面积(虽然你这个说法不是很准确,这个逼近工程上的应用还是可以的,哈哈)
3.你可以在编辑栏里,点击你的图,以激活,可以拖动大小到适当的尺寸,试试。你上图太大了。。
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