| | | | | 高手,虽然做了LLC,对这个问题还是一知半解的,刚好出这样的帖子学习。
微观的东西还需仔细琢磨,
ZVS可以减少turn on/off switching loss... |
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| | | | | 如果是ZVS,第1,2两种损耗都没有;如果ZCS,第2种损耗可能存在,所以ZVS更受欢迎,不知这样理解对否? |
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| | | | | | | ZCS在关断时才有优势。。。如果是ZVS,对于第一个损耗,减小了叠加面积所以也减小了损耗。对于第二个损耗,如蓝天兄所言,结电容上的储能已被抽走,从这个意义上说,无能可损了。所以同意楼上的观点 |
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| | | | | | | | | 这不是看了你那个全桥效率上不去的帖子,有感而发。。。 |
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| | | | | | | 首先纠正你认识上的一个误区:一楼的第一条,并非交越损耗,而是导通损耗。
MOS的损耗,包括两个部分:交越损耗(也叫开关损耗)、导通损耗。
ZVS降低的是第一种,而对第二种损耗是无能为力的。
我们知道,开关损耗是随着开关频率的提高而提高的,而开关频率的提高,可以大大减小电源的体积,尤其是磁性器件的体积,提高功率密度。而软开关有助于实现这一目标。
软开关的种类很多:
1、负载谐振型。
2、单管准谐振型。
这两种,都是调频控制。
为了能在PWM控制中,应用软开关,也就有了以下两种:
3、零开关。(也叫PWM控制的准谐振,因为叫着拗口,所以叫零开关,这也是我们最常讨论的软开关形式)。
4、零转换。
就软开关的实现形式,又有四种:
1、零电流导通
2、零电流关断(也就是常说的ZCS)。
3、零电压导通(也就是常说的ZVS)。
4、零电压关断 |
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| | | | | | | | | 关于损耗1,其实我觉得楼主是想表述交越损耗来着,只是不该用那个公式。。。。。。搞的好象是导通损耗。 |
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| | | | | | | | | 哈哈,我心里就知道如果老兄看了这个帖子肯定会说这不是“交越”损耗。
俺在题头专门强调了“翻转的过程中”这个词,这个时间段内MOS 的Rds是从一个很大的值变化到一个很小的值 即Vds-on ,是个动态的。严格的说,1楼的公式 :I ^2* Rds 应该用积分的形式表达(无乃积分符号打不出来)
W= 积分符号 I (t)^2* Rds (t) *d(t) (积分时区:就是翻转的过程 t1,t2)。
而导通损耗,就是翻转的过程完全结束后,Rds趋于一个稳定的值(也就是通常说的饱和导通电阻),而此时,电感的电流也完全换流到MOS 的D-S 通道(其实:翻转的过程中,电感的电流也不是完全换流到MOS 通道,先将这个忽略。认为完全是)。
如果能完全做到ZVS ,可以说大大控制住交越损耗,开关频率将可以被极大幅度地提高。为什么这样说:
1。MOS 的电容Cds能量完全是抽走到输入电容,重新利用。没有损耗
2. 关于如何控制“变化电阻”的损耗(也就是1楼中的问题1),也正是本贴要讨论的。2楼的回答值得参考。 |
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| | | | | | | | | | | 即使你纠正了,说法也不确切。
交越损耗,包括导通损耗和关断损耗,很简单,就是场效应管开关过程中电压和电流的积分。
1。MOS 的电容Cds能量完全是抽走到输入电容,重新利用。没有损耗。
Cds的能量不一定非要抽走到输入电容~
2、关于如何控制“变化电阻”的损耗。
实现软开关的话,米勒效应都可以不考虑了,这个变化电阻,更没人关心。 |
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| | | | | | | | | | | | | 交越损耗:场效应管开关过程中电压和电流的积分,这是最严格的定义,也是最直接的。
如何将这个“量”进行了分解?
可以用 : IL 通过变化的Rds + Cds电容 通过变化的Rds ,这两个过程来模拟吗?
如果可以:如何控制Rds 的变化,就显得很有必要。
如果不可以:理由是什么?
Cds的能量不一定非要抽走到输入电容,这我同意。
至于能量抽到哪里去了,我不关心,只要不被Rds消耗就行。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | IL 通过变化的Rds + Cds电容,这个过程,很难模拟~
实现了软开关,交越损耗都可以忽略了,谁还关心Rds怎么变化的啊~ |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | 真正的 零电压开关,不仅可以减小 交越损耗,而且可以消除 交越损耗。
Vds Ids 波形没有重叠,或者说在有Ids之前,Vds就已经为零了,这就是宏观表现。
至于两者没有重合的原因,方法很多啊,最常见的是 谐振,还有 线性充放电。
比如拿ZVS移相全桥来说,超前桥臂靠的是线性充放电,滞后桥臂靠的是谐振。
Mos管的DS不是并联有电容吗?在mos导通之前,让这个电容上的电压放掉,就是零电压导通了~
那这个电容上的电压继续谐振,其上电压为负了怎么办?
Mos的DS不还含有内部寄生二极管或者反并联的快恢复二极管呢吗?嵌位一下就是了。 |
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| | | | | YTDFWANGWEI- 积分:109888
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积分:109888 版主 | | | | | | 你最好结合具体电路来说明:在MOS管开通过程中,也就是你说的“这个时间段内MOS 的Rds是从一个很大的值变化到一个很小的值 即Vds-on ,是个动态的。”这个过程中,一般是体二极管导通,等到电流反向的时候,MOS管已经处于Rds很小的时候了。这才是真正的ZVS,你前面叙述的还不是ZVS。按照你说的MOS管开通过程中,电容上电压就不可能是零。再好好想想。 |
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| | | | | | | | | | | | | 王兄,1楼的1。2。描述是没有ZVS的情况,MOS一般的工作过程。 |
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| | | | | | | | | 一看就是高手发言,学习了,
ZVS可以减少交越损耗,但是导通损耗就没法了。。 |
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| | | | | | | | | | | | | 当交越损耗减至极限,就随频率提高而增加,
开关是减小管耗,但只是把温升威胁转化为应力危机,软开关的重点是 封顶,抒缓开关应力,也因其 渐变 的性质而可使管耗再小一些。 |
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| | | | | | | | | 冒昧的问一句,ZVS,ZCS到底指的什么意思,电压或电流只要有一个为零不就没有损耗了吗?那ZVS和ZCS就无所谓谁优势了吧。请指点。。 |
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| | | | | | | | | | | 两者为的都是提高管效,
提高总体效率,可以节能,提高管效还有更重要的一层意义,就是关乎管子的安危,
没电位差,就造不成电流,ZVS跟ZCS 都是使管子 由即将开通至刚刚关断 的这段时间内没有电位差,ZVS行的是分(电容旁路),ZCS用的是堵(电感抽引),配置不同,利弊自然各异。 |
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| | | | | | | | | 你好。关于你对软开关实现形式的四种概括,是不是可以认为:
1、零电流导通不能叫做ZCS ?
4、零电压关断不能叫做ZVS ?
请问 零电流导通 与 零电压关断 对实现减小功率损耗有没有实际意义?还是他们纯粹只是个叫法,没实际意义? 谢谢 |
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| | | | | soft switching 过程,请大家仔细分析一下。。
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| | | | | | | 这里的Ids,其实包含了mos并联的DS电容及反并联的快恢复二极管里面的电流~ |
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| | | | | | | 将VGS 延长了一点。在VGS上升的过程中,Rds有电流吗?
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| | | | | | | | | Rds当然没有电流了啊,不然还能叫 零电压开关吗?
这个电流,可以看到电流方向是从 S流向D的,是通过内部寄生二极管或者反并联的快恢复二极管流过。
老兄可能认识上有偏差。
MOS管的Vgs即使驱动电压达到10V,足以驱动MOS至饱和,但DS不一定会有电流的,这时候还要看外围电路。 |
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| | | | | | | | | | | ZVS主要减小开通损耗,也就是MOSFET在开通一小段时刻产生的大量的损耗(即热量) |
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| | | | | | | | | | | Mos 管的电流可以双向流动 ,在VGS 得到满足后,电流可以从D--S ,也可以从S--D 。同步整流下管就是。
如何判定,Rds当然没有电流了啊 ? |
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| | | | | | | | | | | | | 这个时候要看外围电路了
如果看S比D低1.2V左右,那就是DS被反向嵌位了。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | 这个我同意,电压被体二极管嵌位。
关心的电流,有没有经过MOS 内核--Rds呢?为什么只走旁路? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | 这就是我为什么一直关心MOS 的内核----Rds
我们一起来看MOS 的输出转移曲线Ids—Vds和Vgs三者之间的关系。
相同的驱动Vgs 条件下:
在Vds越小的情况下:Rds从无穷大变化到零,零就越彻底,而且过程越快。你用笔在MOS 的输出转移曲线Ids—Vds和Vgs三者曲线上仔细画动MOS工作点
Rds就是工作点到原点连线的斜率。仔细移动, 观察。
如果在极限条件下:即Vds=0 ,再给出驱动Vgs呢? 所以,零电压开通MOS 的重大意义,不仅仅将Cds能量抽走,另外,能让Rds非常迅速地回到“零”,解决了1楼的第1个问题。其实这个问题:2楼的网友一开始就回答了。。。。。。。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 真的不是你想的这么回事,老兄~
Rds迅速达到最小,只跟驱动电平的上升速度有关,跟零电压没有半毛钱的关系。
而且饱和导通时的电阻Rds近似恒定,这个属于直流损耗的内容,不是软开关所能解决的。
实现了零电压,开关损耗可以忽略不计,至于Rds是多快的速度达到最小,更没人关心~ |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 老兄,我给出了条件:相同的驱动Vgs下。。。。
ZVS 并没有改动驱动,改变的是MOS 珊极电压。是在珊电压5V下,还是在珊电0V 下给出驱动,
驱动自己并没有改变。
来个假设:如果始终固定珊电压Vds= 10V ,可以说,你永远也得不到饱和电阻Rds。。。。。
驱动Vgs 是在 珊电压5V下给?还是在珊电0V 下给?Rds有什么不同?
就如你上楼所说:你不能肯定:电流为什么只走旁路不走核心---Rds,那么就认为也走好了。
所以:Rds控制就关键了。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 只要控制在得到饱和电阻Rds之前,DS间就没有电流,不就可以了吗?
Rds下降的慢,慢就慢呗~
直到Rds下降到饱和了,DS再有电流通过,开通时的损耗不也是很小吗 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 这是最好不过了。。。。。。。
引入线圈电感不就是么。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | bluesky 出答案吧。。
我的想法是:Vds电压被体二极管嵌位,,电流方向流过body diode,但此时Vgs并没有导通。。只能走旁路。。不走正路。。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | 哈哈,我没答案。要说有的话,请看我和Zkybuaa的对话。。。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | 呵呵,我做过不少软开关电路的仿真。
在零电压导通电路中,电流确实是从反并联二极管中流过,而不会从S流向D。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 在零电压导通电路中,电流确实是从反并联二极管中流过,而不会从S流向D。??
你当初看Vgs是否有导通呢?? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 至于理想波形,你随便找本软开关的书,上面都有。
至于实验波形,我在那个关于移相全桥的帖子上,贴有零电压的波形。
可以参考分析。 |
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| | | | | YTDFWANGWEI- 积分:109888
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积分:109888 版主 | | | | | | 我看了半天不知道大家在讨论什么?
1、如果实现了ZVS,在MOS管开通前,电流通过体二极管,MOS管零电压开通,这个时候即使电流转移到了MOS官由S流向D。有什么关系?
2、即使MOS管流过大部分电流,是由S流向D,那么也就是存在一个电流换向,有问题吗?跟损耗有什么关系? |
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| | | | | | | | | | | | | 请仔细观察21楼的图:
1。Vgs在上升沿阶段,Ids是从哪里过? Rds?Coss?diode?
2。Vgs在上升沿阶段,Rds如何变化?
3。Vgs在上升沿阶段:哪些是耗能因素?如何减少耗能?
4。ZVS讨论的就是:Vgs在上升沿阶段能量如何损耗的。 |
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| | | | | | | YTDFWANGWEI- 积分:109888
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- 帖子:45927
积分:109888 版主 | | | | | | | | 1、这个问题重要吗?我觉得无论电流从哪里流都不影响,电流肯定是从阻抗最低的回路走。而无论在硬开关还是软开关,开关速度越快必然造成损耗越小。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | 再看54楼的话:
开关速度越快必然造成损耗越小。这话说到点子上了。
什么叫开关速度?一般的理解是:上升 下降沿的时间呗
这是宏观的表现。
开关速度:也可以定义Rds从无穷大变为0的速度,反之亦然。
如何加快Rds动态变化速度?我的帖子已经给出了解释。
零点压开通是这样,零电压关闭也是这样。这两个方法也正是软开关的两个方法。
另外,ZVS 也同时带来另外一个好处,就是降低了EMI ?想想为什么?
在降低交越损耗(其实交越损耗也是一种导通损耗,只不过此时的Rds是动态的。不要老是迷信书本
书上没有说的,我们自己心里要说。书也是人写的)的同时,并没有提高驱动信号的驱动速度。
用54楼的话来说:降低交越损耗就得提高驱动信号的速度,但ZVS 没有。
因为在Vds 0电压状态下,对驱动信号的速度的要求,降低了。为什么?????
请参看我建议的MOS 输出特性曲线。 |
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积分:109888 版主 | | | | | | | | | | 1、实现了完整的ZVS的开关,可以基本不用考虑开关损耗,因为开关损耗占得比例很小了。
2、按照你的想法肯定是开关速度越快越好
我还没明白你想表达的概念是什么?你自己的想法是想表述什么问题或现象? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 问题就是1楼的 1。 2。问题呀,
贴,你没仔细看,哈哈
你得说出ZVS 为什么能够减少损耗的理由哇,
不要说:电流和电压没有重叠 所以没有损耗,这是宏观表现。
微观过程得说的清呀,才行。 |
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| | | | | | | | | | | 老兄,我将图改了一下,这样是否更能说明问题一点呢。。。。。
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| | | | | | | | | | | | | 这个图压根就是有问题的。
你是相信试验结果呢,还是相信不知出处的一张图片呢~ |
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| | | | | | | | | | | | | 你可以仔细看这张时序图。
既然认为Vgs上升期间,Ids流过场效应管,场效应管的压降怎么会是零呢~
场效应管的功耗,就是Vds*Ids在时间上的积分。
这时候的Vds是为零的,所以不会有功耗产生。
实际过程中,这个压降不会是零,而是一个二极管的压降。
只有Vgs达到驱动高电平,过了米勒平台,Ids才会换流。 |
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积分:109888 版主 | | | | | | | | 什么情况下会出现你这个图的波形?MOS管有电流流过,而且是正向电流,MOS管没有开通但却没有压降? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | 哈哈,这个波形是有问题,
俺俺俺。。。只是借过来说明:Ids流过快速变化的Rds,解释这个概念而已。
千万不揪着。。。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | Vgs何时给出?
通常实际准谐振的情况是:检测Vds的谷底,到了谷低,就给出Vgs,而此时的Ids电流是反向的。
等Ids反向电流回到0。此时的Vgs已经稳定了(也就是Rds已经完全饱和了,正在等着迎接正向Ids电流的到来)
我始终觉得:ZVS 在电流反向期间也是有作用的,Vds=0 ,此时的Ids是反向的(从S-D ,至于是从正门还是偏门?先不说),从Vds=0 开始,在随后的Ids是反向期间(这个反向时段称为A ),也正是Vgs开始翻越弥勒平台的期间(换句话说:也正是Rds动态变化的期间)
如果,Rds在A 期间就能够充分地,迅速地变到0 ,假想一下:Ids的A 期间的时间是1年。Rds从无穷大变到0,花了3个月。Ids的剩下的9个月时间内还愿意走那该死的体二极管吗? |
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| | | | | | | | YTDFWANGWEI- 积分:109888
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积分:109888 版主 | | | | | | | | | 当RDS减小的正常值后,如果电流还是反向的,(这个是实现ZVS的前提)。那电流应该是通过RDS而不会通过二极管。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | 终于明白你要表达什么意思了~
ZVS对这个过程是无能为力的。你考虑得偏了~ |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 无论这时候的Ids走偏门,还是走正门。
MOS两端的压降,都不会超过一个二极管的压降,这个压降形成的损耗,zvs消除不掉。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 走偏门,的确 ZVS 是没有办法消除的,这是固有的缺陷。(电流不反向,就不能创造ZVS条件)
看看上68 楼红色相对箭头所示意的,这段电流将从正门Rds通过,体二极管被旁路了。这时MOS D-S 电压将进一步下降。比体二极管电压要低。比如说:体二极管导通电压是0.3V ,此时的MOS 的D-S 只有0.1V 了。。。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 事实上,这个时间相当的短。
对于软开关来说,已经降低了交越损耗的90%。对于残存的这点10%的损耗,无需管那么多了。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 对于更高频率的开关电源,任何一点的损耗都不得了。
只有知道了微观的细节,心中才塌实,有谱。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 你69楼说的非常对,我严重同意,ZVS 消除不了。只有提高驱动电压Vgs幅度和它的上升速度,让Rds更快地变为0 ,缩短与电流Ids的“相遇”时间。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 这个是换流过程产生的损耗,不可避免,已经过了软开关的过程。
而且软开关的实现,是有助于降低这个换流损耗的。
你可以定量估算下这个损耗,非常小,可以忽略。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 好,大家都理解我的意思了,参看68楼的图
1. 假如说:Vgs不是在Vds=0 就给出,而是在Vds=2V,3V,4V,。。某一个值。给出和Vds=0 就给出。
Ids走正门损耗有什么区别?
2. 谁能保证:在Vds=0 ,Ids就一定还是处在反向阶段。有没有可能:
Vds=0 ,Ids=0 ?
Vds=0 ,Ids大于0 ? |
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| | | | | | | | | | | | | | | YTDFWANGWEI- 积分:109888
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- 帖子:45927
积分:109888 版主 | | | | | | | | | | | | | | | | 1、如果不是在VDS为零的时候就给出驱动,就不是完整意义的ZVS。
2、VDS=0,IDS=0有可能,如果VDS=0,IDS大于零,怎么可能?电流从哪里流? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 1.你得要说说不完整意义上的ZVS 和完整意义上的ZVS的差别在哪里,不要简单说:完整的ZVS 损耗更小。。。
2. 输入- 励磁电感 - Coss |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 1、完整意义的软开关,就是Vgs产生之前,Vds压降为零。这是理想状态,实际情况往往就是Vds被MOS的反并联二极管嵌位为一个二极管的压降,也就是-0.7V。别拿反激准谐振说事,这种拓扑很难实现真正的软开关,它所谓的软开关,也就是检测Vds的谷值,然后产生Vgs,能降低开通损耗而已。
2、你说的第二种情况,根本不可能发生在本贴讨论的电路中。
能实现零电压导通的拓扑,大都可以轻而易举实现零电压关断。像你描述的这个电路通路:输入- 励磁电感 - Coss ,只是发生在开关管关断的时刻。
首先你要理解,我们这里讨论的软开关,学术上的称呼叫 零开关,它最原始的称呼是叫:PWM控制的准谐振软开关。凡是零开关,都是双管,包括桥式、有源嵌位正激、有源嵌位反激等等。开关管的导通占空比,一般都是控制在0.5之内,有源嵌位正激可以达到0.7。
那么,你所描述的电路通路,存在于开关管关断的时刻,如果这个电流通路,在开关管将要开通的时刻还存在,那么至少要经过0.3周期,这是不可能发生的。
零开关之所以又叫 PWM控制的准谐振软开关,是因为最初的软开关技术,起源于可控硅桥式逆变电路,利用负载参与谐振,才实现的软开关,但属于PFM调频控制。
而我们的开关电源,属于PWM控制。为了实现PWM控制的软开关,就要弱化这个谐振周期,将开关管的一个开关周期,谐振周期的比例降低,而加大PWM控制的周期。所以,所谓的零开关,是两种控制的融合,是在弱化了谐振周期的前提下,强塞入一个大比重的PWM周期。
你描述的电流通路,其实是个谐振电流通路,如果经过了0.3周期,它还存在,这就违背零开关的原始定义,也就不再是零开关。
但你描述的情况,也不是不会发生。它可能存在负载谐振软开关电源中(包括四种:串联负载串联谐振,并联负载串联谐振,串联负载并联谐振,并联负载并联谐振)。我们常说的 负载谐振变换器,其实是括弧中的前两种,常简称为(串联谐振变换器SRC,并联谐振变换器PRC)。
那么你描述的电流通路,存在于这种变换器中,发生了什么情况呢?很简单,它并没有实现 软开关。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | YTDFWANGWEI- 积分:109888
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 在这个帖子里我主要想表达的思想是:
在Vds小的情况下,给出驱动Vgs信号,能够获得较好/ 较快 的Rds转变。减少交越导通损耗。
比如,就象zkybuaa兄上楼所说的反激准谐振,以貌似“完整ZVS”谷底检测方式,给出驱动Vgs,也能很好地提升效率。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | YTDFWANGWEI- 积分:109888
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- 帖子:45927
积分:109888 版主 | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 呵呵。那只能说你开始描述的不对,什么叫ZVS?汉语的意思应该是“零电压开关”开关吧?既然说是零电压开关就不存在在电压不是零的情况下给出驱动,如果在不是电压为零的情况下给的驱动,那就不能算ZVS,只能象你说的是近似ZVS。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 软开关 soft switch
零电压开关 ZVS zero voltage switch
零电流开关ZCS zero current switch
零转换开关ZVT zero voltage transition |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 请教张兄: ZVT 和 ZVS 有什么区别呢?
模糊地记得,好象说是差不多的意思,只是说法不同而已.. |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 两者差别大了。
像正激这种单管拓扑,想实现ZVS,就要加入辅助管(嵌位管)。
而嵌位管也是要通过较大电流的,伴有较大功耗。
为了减小辅助管支路的功耗,就想办法把这个辅助管支路并联于主开关管支路的两端。
主管实行PWM控制,而辅助开关管只在主管PWM控制脉冲的前沿和后沿,很短暂的触发导通,协助主管通过谐振等方式实现软开关。这样的话,辅助管支路的功耗就大大减小,效率大大提高。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 上述是零转换。
而零开关的话,辅助管导通的时间较长,常见的是与主开关管互补导通。如果辅管不能实现软开关的话,主管实现软开关提升的效率部分,很可能被引入的 辅开关管硬开关抵消。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 谢谢 张兄。
记得张占松 蔡宣三的那本书简单地提到过ZVT 和ZVS 。
等下我再找找资料,结合电路仔细琢磨一下。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 这个很对,我刚看到书上的这部分,专门给副管也加了辅助电路,让其实现软开关 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 那零开关和零转换到底是怎么区分的,什么样的叫开关,什么样的叫转换呢? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 被理解是种幸福 , 就象我看到你这个回答的心情一样. |
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| | | | | | | | | | | | YTDFWANGWEI- 积分:109888
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积分:109888 版主 | | | | | | | | | | | | | 1、这个反向电流与正常工作电流相比,是大还是小?
2、这个反向时间与正常工作时间相比能占多大比重?
从上面两点可以计算你所说的这个损耗占导通损耗的的比例,即使将你说的损耗全部去掉,去掉的部分占导通损耗多大比例?
3、即使按照你的说法,也是驱动速度越快,这个过程的损耗会越小。 |
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| | | | | | | | | 参看21楼的图,在Vgs上升沿阶段,Ids 是如何通过S-D 的,是走正门“Rds”还是走偏门“Coss,diode”,亦或两者都通过?
可以肯定的是:
1)假如Rds真正意义=0 ,Ids 是不会走偏门的。
2)假如Rds较小,可以猜想的到,能有部分Ids电流流过Rds,Rds越小,Ids分流的就越多,就象两个并联的电阻,电流总喜欢走阻力较小的电阻一样的道理。
交越损耗,考虑的就是这个VGS上升沿的损耗(题外话:对单个周期而言虽然这个时间很短,损耗不足道。但对于高频率转换开关来说,累计的宏观效果就不能忽略。)
有什么办法,让VGS上升沿的损耗变的更小,换就话说:有什么办法让VGS上升沿时间内,Ids的电流更多地从正门“Rds”通过呢?唯一的方法,就是在VGS上升沿时间让“Rds”迅速回到零。如何让“Rds”迅速回到零呢?
从我上面建议的MOS 输出曲线Ids—Vds和Vgs 可以找到答案。------就是在VGS来到前,尽可能地降低Vds。
所以:
ZVS 另一个作用:在Vgs上升沿阶段,让Ids 最大可能地走正门“Rds”,减少了交越期间的“导通”损耗。
简单归纳 ZVS作用:
1。抽走Cds能量。
2。Vgs上升沿阶段,让Ids 最大可能地走正门“Rds”, |
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| | | | | | | | | | | 即使走正门 Rds,又怎么样啊?
mosfet的S到D之间的压降,有DS间的反并二极管嵌位着呢~ |
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| | | | | | | | | | | | | 电流的平方和电阻的乘积就是消耗功率呀,能量呀。
所以ZVS在高电压工作时,优点就很快突出了。
电流的平方和电阻的乘积:别小瞧这么点东西。频率高了,就是大问题。
无穷小量该小吧,你认为它多小,它就有多小。但是无穷多个加起来,就是积分值了。 |
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| | | | | | | | | | | 这个说是在关断的瞬间的损耗是很客观的,要的是减小这部分的能量吧?
另外那个体二极管的速度比较慢,走偏门的时候,这个损耗还比较大吧 |
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| | | | | | | | | 本质就是
在MOS的DS电压下降到零之前,里面没有电流流过~ |
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| | | | | | | | | | | 在MOS的DS电压下降到零之前,Rds没有电流流过???
只流过Coss,diode? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | 又换句话说 :不要原理,只知道定义,恐怕是教条了。。。 |
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| | | | | | | | | | | | | 换个说法:当ZVS发生时,mos各个参数表现为如何? |
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| | | | | 1、说法差不多,但是你算错了,你算的是导通损耗。工程常用的算法是1/6*I*u。
2、就是MOS的开通损耗,ZVS也就是省这部分,因为开通前先把Coss上的电荷取走了,在LLC里面就是转化为了感性器件的储能。但是这会加大回路的无功电流分量,在所有带有阻性的器件、回路上会带来损耗,所以有一个相位的折中设计。 |
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| | | | | | | 开通的时候由于电容的作用,开通的慢,关断的时候由于二极管的嵌位作用,损耗也小啊。节省的应该是二部分都有吧? |
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| | | | | 如果MOS两端的电压在其开通前已经下降为零,MOS开通损耗就是零,只剩下导通损耗了,这时再关注开通时等效电阻的变化还有什么特别的意义呢? |
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