| | | | | 目前来说,在炸管子的瞬间,测电感输出的电流波形,发现开始能正常软启动,后来就突然突然炸掉,求助有遇到类似问题的吗,单个管子就没事
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| | | | | 就是同一型号的管子 也难免存在参数上的差异 所以电流不平衡是非常可能造成炸管的
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| | | | | | | 单管mos就没事,一并联就炸,是不是均流没处理好或者其他原因
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| | YTDFWANGWEI- 积分:109874
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- 主题:142
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- 帖子:45925
积分:109874 版主 | | | 你这个好像不是MOS管并联吧?只坏MOS管,二极管没问题?
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| | | | | | | 是啊 王工,只坏mos,而且大部分情况下只坏其中一个,二极管啥事都没有,用单个mos没事,两个mos就炸,用两个IGBT并联也没事,不知道是驱动不合理还是均流没做好?另外就是均流没做好的话,IGBT不也应该炸吗
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| | | | | | | | | 看一下能否用双脉冲的方式测一下两个IGBT和MOSFET的均流效果,还有你说的两个IGBT和MSOFET的电流是一样的么?还有炸机是在带载的条件下还是没有带载的条件下出现的. |
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| | | | | | | | | | | 都是在带同样的满载的情况下一上电就炸管的,满载峰值电流(加电感纹波)为28A,我单个mos电流是47A,就算不均流,单个mos也够了吧,IGBT的电流是32A的两个 |
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| | | | | | | 王工有什么好的思路吗,本来就是打算用IGBT,但是不懂为什么mos就一上电就穿一个
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| | | | | | | 王工,你看看14楼的波形,看一下,是因为电流环的事吗
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| | | | | 你的结果,应该可以不考虑稳定过温导致器件损坏。那么就剩下过电压或者过电流两种情况了。PFC电路,开关管的漏极通过二极管被输出电压钳位,过电压损坏的可能性也不大。所以,我认为应该是过电流导致MOS损坏。接下来就是分析,过电流损坏是怎么发生的。我觉得应该是发生在开通切换的过程中,也就是off-on切换的过程,如果并联的两个MOS不是同时动作的,先动作的管子通过的电流包括电感电流+二极管结电荷充放电电流(假设采用SIC,不考虑反向恢复电流)+两个MOS的输出节电容充放电电流,如果这个切换动作很快,时间很短,那么结电容(二极管+两个MOS的输出电容)电荷一定的情况下,这个充放电电流会很大,比使用一个MOS情况下要大很多的,有可能造成先动作的MOS过电流损坏。使用IGBT时,OFF-ON的切换速度很慢,动作的时间很长,故结电容的充放电电路可能会小一些,同时,IGBT的电流能力也比MOS大一些。
所以,我认为,是由于在OFF-ON切换的时候,由于并联的两个MOS动作不一致,先动作导通的MOS通过的结电容充放电电流过大导致MOS损坏。可以尝试增加驱动电阻,减小驱动电流(注意开关损耗的增加)的方式,减慢OFF-ON的切换速度。也需要优化一下PCB布线,尽量保证两颗MOS的栅驱动回路一致。
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| | | | | | | mos损坏瞬间的波形是这样的,300W或者500W启动的时候是没事的,满载1KW启动就会出现炸管子的情况,另外就是捕捉到的炸管子瞬间电感电流波形(蓝色10A/div)和输出电压(黄色200V/div)
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| | | | | | | | | 输出电压还没有上升到正常值,电源启机就坏掉了。你试过增加栅极驱动电阻,减慢开关速度没?如果软启动过程可调,建议增加软起动的时间。
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| | | | | | | | | | | 仔细看图片,可以看到电感电流很大的时候,输出电压并没有上升,是不是在MOS坏之前的这段大电流没有完全通过二极管流到输出?这样的话,占空比一直就会很大,电流就会很大。
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| | | | | | | | | 你能分别测量在1KW时刻两个管子的电流么?看一下是什么样的
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| | | | | | | 分析的很好,应该是这个原因,我也遇到这个问题,判断下来因该是这个问题。 |
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| | | | | 并联的两个mos,栅极是直接连的还是分别用2个驱动电阻(如10欧姆)连的?一般情况下栅极电阻是不能直接连的
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| | | | | MOS与IGBT耐压是否相同?MOS是否总是损坏某个位置的还是随机的?此外,你的电路图和PCB画的不敢恭维啊。 |
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| | | | | | | | | 如果IGBT比MOS耐压高,炸MOS而不炸IGBI很正常
如果布线不好,可能会炸
多管并联的均流不仅仅是布线对称、驱动分开。如果可能,二极管也应分开,如果电感也分开(或者绕组分开),基本上就和单管没啥区别了。
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