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ESD测试失效

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MyloverHlyn
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LV8
副总工程师
  • 2019-5-6 19:32:42
ESD测试失效,量测PWM IC和431击穿,更换后空载电压跳动,带载后电压稳定但飘高;示波器测量输出电压显示电源已OVP,更换光耦后输出恢复正常,但量测光耦二极管压降正常,反向也无击穿。求助大佬帮忙分析原因,谢谢大家了!
收藏收藏1
wangdongchun
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LV12
专家
  • 2019-5-6 21:45:02
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楼主可以将线路图上传   
edie87
  • edie87
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LV8
副总工程师
  • 2019-5-7 11:08:21
  • 倒数5
 
打ESD时看看有没有跳火的地方,多与PCB走线有关
MyloverHlyn
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LV8
副总工程师
  • 2019-5-7 19:46:10
  • 倒数2
 
ESD是测极限电压失效的,就想了解为啥光耦会导致输出电压空载跳,满载稳但是高
rj44444
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版主
  • 2019-5-7 11:24:22
  • 倒数4
 
多半放电路径通过光耦跳火了,使用爬电距离更大的光耦或者引导放电路径
MyloverHlyn
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LV8
副总工程师
  • 2019-5-7 19:45:06
  • 倒数3
 
主要想了解光耦是怎样的失效模式,会导致空载输出电压飘高到保护,满载电压稳定但电压比设计的要高。
rj44444
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版主
最新回复
  • 2019-5-8 10:56:18
  • 倒数1
 
可能是输入二极管漏电
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