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| | | | | 1、如果内部已连通,外部也就没必要分了。
2、ADC芯片的AGND只作为输入的参考地。
3、ADC采样结果为(ADC端口电压/参考电压) X ADC位数,所以5V精度并不影响测量精度。
最后一个问题
这种电路通常使用16位到24位高精度ADC,与通常MCU自带的10位-12位ADC采样原理也不一样,并且外部的一些干扰如市电会给电路带去50Hz的干扰,所以需要跟据需要设定ADC配置中的一些滤波参数,以获得高稳定度的有效采样数据。具体要查看ADC芯片手册。
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| | | | | | | 非常感谢。 针对这个图,内部实测不通,也不敢通,仪用运放与ADC的地有电位差。只是不清楚DATASHEET里面推荐压力采样的这个图到底有什么优势。最后个问题还是没明白,有通俗的举例或类比表述吗?
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| | | | | | | | | 当然有优势了,成本很有优势,现在电子称基本也是这种架构,放大到ADC采样成本几块钱就可以了。
如TI单片机430AFE253带24位AD,好像也就3-5块钱,国产好像有个7707也就一块来钱,还有ST ARM也有类似芯片,可以通过查看芯片手册了解更多信息。
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| | | | | | | | | | | 优势主要说的是性能上的(与DGND和VGND在ADC下面通过磁珠短接)
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| | | | | | | | | | | | | 大多AGND与DGND都是在PCB板上连到一起的,当然有个别例外(如你上面的图),但不会出现用磁珠来短接的。 |
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