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未解决

测试反激ESD打坏光耦

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夜雨雨夜
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LV8
副总工程师
  • 2020-10-19 17:15:52
10问答币
做了一个PD小板,测试ESD一直打坏光耦,13kV空气就挂了。一次14KV光耦直接炸裂,确认安规距离都够。芯片在其他地方是打过的。

请教一下是不是layout哪里的问题?


收藏收藏2
夜雨雨夜
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LV8
副总工程师
  • 2020-10-19 17:17:07
  • 倒数9
 
把光耦架起来1cm空中,确保不是Y电容在光耦下面线的影响,结果还是一样的。
清水也会醉
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LV8
副总工程师
  • 2020-10-19 19:41:49
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试试:Y电容加放电针,然后单独走线。
夜雨雨夜
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LV8
副总工程师
  • 2020-10-20 08:54:50
  • 倒数5
 
已经在试,看看效果怎么样
nc965
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  • 2020-10-19 19:42:34
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光耦有绝缘电压指标,多数到不了13KV
夜雨雨夜
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LV8
副总工程师
  • 2020-10-20 08:55:34
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那用什么措施来解决呢
nc965
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最新回复
  • 2020-10-20 10:38:55
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高压光耦、自己做光电隔离器、隔离变压器
谢开源
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LV10
总工程师
  • 2020-10-20 08:50:32
  • 倒数6
 
明显就是C9初级pin与光耦距离ESD不够。通常>7mm才好,开槽只是看不到ESD放电但有感应电压,一样会坏。
夜雨雨夜
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LV8
副总工程师
  • 2020-10-20 08:56:39
  • 倒数3
 
意思是光耦原边和Y电容副边要7mm以上?
谢开源
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LV10
总工程师
  • 2020-10-20 09:06:05
  • 倒数2
 
ycap通常放ESD放电针,距离尽量小。光耦要大于7mm(不要与放电针在一起).
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