|
| | xkw1cn- 积分:131400
- |
- 主题:37517
- |
- 帖子:55626
积分:131400 版主 | | | |
|
|
|
| | | | xkw1cn- 积分:131400
- |
- 主题:37517
- |
- 帖子:55626
积分:131400 版主 | | | | | 三十年前;就凭借CPLD实现自适应死区了。这些在高端电源;都是不存在的。
|
|
|
| | | | | | | | | | | 老大,你说的自适应死区是应用在LLC拓扑上面的吗? 我以前玩过自适应死区调节,不过是使用DSP, 应用的拓扑也是硬开关全桥的有源吸收,用于吸收副边stress尖峰,没玩过CPLD 电源
|
|
|
| | | | | | xkw1cn- 积分:131400
- |
- 主题:37517
- |
- 帖子:55626
积分:131400 版主 最新回复 | | | | | | | CPLD强大的多,没有程序循环和中断响应概念。几乎可以在单时钟周期完成任何想做的动作。不过要从“0”组装“操作器”。
DSP只不过是被串成糖葫芦的半成品而已。
|
|
|
| | | | | 你要知道,LLC 谐振腔在死区内做了什么事情(激磁电流,在死区时间内,把半桥MOS的结电容充满电,在这之后,MOS获得驱动信号,实现软开关 ),那么就可以通过电荷公式Q=I*T=C*V 的公式反推出你想要的死区了。
|
|
|
|
| | | | | | | | | 这个问题,我不能很简单的把他讲明白,但是基本思路是突加载时,突加载有可能谐振腔进入容性区,这样MOS 就处于硬开关了,这个时候就需要反向恢复特性好的MOS来硬抗。 关于这方面的资料,你可以搜一下FAIRCHILD 的一篇AN, 大概内容是MOSFET 在 LLC 拓扑中失效模式分析,重点讲了,带载开机,突加载,短路测试三种模式下MOS处于硬开关导致的损坏,可以搜一下看看。不过有可能你得多看几遍,这资料对现在的你有点挑战 。
|
|
|
|