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| | | | | | | 同样磁芯和圈数的情况下300UH的电感气息比400UH的肯定要大一些,这样会不会导致更加剧烈的边缘磁通效应,从而使得发热严重。 |
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| | | | | | | | | 边缘部分确实会存在你所说的那种情况,其实PFC的电感可以用铁粉或者铁硅铝的环来绕制,气息已经均匀的分布在其内部了,很多UPS上都是这样的磁环 |
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| | | | | 这个还真不好说哪一个的铁损大,首先电感大的DELTA B会大,从这个方面来说电感大的铁损会大,哪一方面,两个电感的气息又不一样,气息大的可能损耗也更大,你实测一下电感的温度应该能比较出来。 |
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| | | | | 300uH的磁损大一点,400uH的更优一点,或许500uH的最优 |
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| | | | | | | 请教一下李工,在楼主给定的条件下为什么是电感越小铁损越大呢? |
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| | | | | | | | | 其他情况相同,电感越小,ΔB越大,磁损越大。
楼主的举例隐含一个典型意义:BOOST电感在相当大范围内可正常应用,但是何为最优?
既然300和400uH都能够用,那么400那个气隙的磁芯减少匝数可以到300uH,这样铜损明显降低,而300的磁损要高点,如何权衡?个人观点,磁损铜损应在同一数量级且铜损>磁损为宜。
就楼主的情况,说不定还可以用更小的磁芯。300和400都可能不是最优 |
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| | | | | | | | | | | 李工,你说的“在其他情况相同的情况下,电感越小,DETAL B越大”,为什么说电感越小,DETAL B反而越大呢?在其它情况相同的情况下,电感越小,只能是气息变大,应该是DETAL B越大呀?不知道是不是我了解错了,请指点 |
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| | | | | | | | | | | | | 觉得你俩都不对,不管电感大小,因为Ae和N没变,B也是没变的。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | B=LI/NAe,I,N,Ae都相同,不是L越大,B越大吗?理解的有问题? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | Fsw 给定,L变,I变.. Vin*Ton不变..Lp*delta Ipk不变 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 看11楼的回复,楼主的是CCM,
而CCM PFC一般是定频的.. |
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| | | | | | | | | | | | | | | 既然讨论的是损耗,
我们应该去讨论 Bac,
而不是去Bmax |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | 请问大师,然后呢?俺学识浅薄,还是了解不了,呵呵!
DELTA B那个会大些? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 大师的意思我猜的应该是 U=N*deltaB*Ae/delta T 其中 U N Ae delta T都一样,所以两者的 deltaB相同 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 是的,考虑馒头波内,任意时间点t1时的一个MOS开关周期,
输入电压是Vin(t1)=Vpk*sin(ω*t1),
MOS的导通时间Ton=[Vo-Vin(t1)]/(Vo*fs) ,Vo=PFC输出电压,fs=开关频率
可见这时电感上的伏秒积(即电压乘时间)=V*ΔT,是与电感量的大小无关的,
根据Farady's Law, V*ΔT = N*ΔB*Ae ,
所以只改变气隙,N,Ae不变时,ΔB便不变了,虽然电感量是变了,
电感变了,ΔI是变的,因为ΔI=V*ΔT/L,
不要以为ΔB和ΔI,一定是同步的,一定是同增同降的,得看情形。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 怎么说呢,L*ΔI = V*ΔT = N*ΔB*Ae , L*ΔI一样也是不变的。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | 这个问题还有疑问?
电感是什么?是一种和电容对应的储能元件。
其他条件相同,是指拓扑、频率、占空、出力相同。
电感储能,和什么有关?与磁材、气隙等没有什么关系吧?只与电感量和电流有关。
电容储能,和什么有关?与介质、个头等没有什么关系吧?只与电容量和电压有关。
电感储能过程与电容储能过程类似,电容是对应于dv/dt,电感是对应于di/dt。
di/dt是指电流变化率,dv/dt是指电压变化率,与什么有关?电感量越小di/dt就越大,电容量越小dv/dt就越大,
因为频率相同,即dt不变,那么电感量越小电流的变化幅度(斜率)就越大,电容量越小电压的变化幅度(斜率)就越大
电流的变化幅度(斜率)越大对应磁场变化率ΔB越大
磁场变化率ΔB越大,对应磁损越大(如果有磁芯的话)
这些都是些基础得不能再基础的概念了,还经常犯糊涂?
又见有人抬出那个公式:B=LI/NAe,不全面理解,直接搬公式,害人不浅啊
不是这公式有什么问题,而是片面的、孤立地理解公式引发的问题
看公式:貌似B与L成正比,但是这是有条件的,条件是:I、N、Ae都不变,你怎么肯定当L变小时 I 没有变大? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | “di/dt是指电流变化率,dv/dt是指电压变化率,与什么有关?电感量越小di/dt就越大,电容量越小dv/dt就越大,
因为频率相同,即dt不变,那么电感量越小电流的变化幅度(斜率)就越大,电容量越小电压的变化幅度(斜率)就越大
电流的变化幅度(斜率)越大对应磁场变化率ΔB越大
磁场变化率ΔB越大,对应磁损越大(如果有磁芯的话)”
李工的意思是300uh的磁损要大吗? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | "电流的变化幅度(斜率)越大对应磁场变化率ΔB越大"
这句话一定的成立的条件,是气息也没有改变的情况下;
而搂主的定义的条件,理论上磁场变化率ΔB应该没有变化,
个人感觉... |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | 这句话与气息没有任何关系,空心线圈也是如此。
楼主定义的条件是同样的电路,即拓扑不变,出力不变,仅电感量在变。这样的情况,最明显的变化是电感电流的波形差异,即300的波形斜率大、幅度大,400的小 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 能进一步解释一下:
1.气息对磁滞回线的改变带来的ΔB没有影响的问题;
2.V*t=BNAe 的错在哪里吗?
我还是没有很清晰... |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 我受此影响:
上图做些变相思考;
1.有气息和无气息的影响,可以类推到气息小和气息大的情况;
2.我们把加入气息的电流减少到和原电流均值一样,来看ΔB的情况;
3.得出的,只是气息变化时,有可能:ΔI增大,ΔB不变;
因:VT=ΔBAeN |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | TO 43 楼,斑竹,你43楼出自哪份资料的图,能否上传下~~~ 谢谢! |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 1.电流波形的差异,我深知;
a.电感越大,连续程度加深:电流变化斜率变小,在定频定占空比即定时,ΔI变小;
同时也许能推出电流直流平台变高,可以讲连续程度加深。
b.电感越小,连续程度减弱:
2.空心线圈,我完全同意您讲的,的确这样的;
但似乎还不能很好的解释这个问题,因空心线圈,楼主的条件未必成立。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | 如果楼主是通过改变N来调节感量的话,我完全完全同意李工的阐述!
阐述的非常非常好!!
但是个人感觉因气息的改变,实际I和B的比例关系已经发生了变化...
不知道是否可以这样理解... |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | 通过改变N来调节感量的话,情况就不一定是这样了,N的减少意味着铜损的减少,增加了一个因素。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 我感觉楼主的情况,铁损没有变,但是铜损变化了;
原因是:
1.虽然ΔI 变大了,ΔB不一定变大;只改变气息,我理解好像ΔB没有变;
2.ΔI 变大了,有可能电流平台和有效值变化了,铜损有可能不同; |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | 李工说得很到位,受教了!
在所有外部条件相同的情况下,电感量300UH的气息比400UH的要大,故400UH的Bmax更大更容易饱和(就饱和程度而言)。但是这个Bmax与DELTA B是不同的, DELTA B反应的是磁场变化率,即变化的幅度(即包围的面积),与电流变化率是正比的。
是这样了解的吧? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | 理解正确
什么导致磁心发热?是ΔB而不是B,B是静态的,即使B很大,哪怕进入了饱和,只要没有ΔB,磁心就不会发热。发热是因为ΔB在磁心内部折腾,和磁心材质有关。 |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | V*ΔT = N*ΔB*Ae?这个公式不对吗?这里面不就是 ΔB? |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | 我从此图的思考的到不是气息与饱和的问题,疑惑的地方是:
气息是否改变了ΔB/ΔI;成正比我知道,我疑惑是正比的斜率是否一直不变;
这也许才是我理解误区的根源所在; |
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 一开始我从:
1.Vt=ΔBAS推出ΔB不变;
2.从上图进一步理解,为什么ΔI变化,而ΔB可能不变。 |
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| | | | | | | | | | | 能否说说为什么铜损>铁损为宜么,这个最适的比例大概是6:4左右,我可以理解成内部发热量要小于外部的热量,利于散热么? |
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| | | | | | | | | | | | | | | 理解,那如果这个比例是8:2甚至更高,但是总体损耗是可以接受的,那会怎么样呢? |
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| | | | | 呵呵,还有这样的问题,不过这个问题还真是挺好的;
我个人理解:
1.在理论上应该是一样的;
2.但因是靠气息改变的,所以实际上不好判定。 |
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| | | | | | | L变了,ΔI变了,ΔB/ΔI也变了,但ΔB变了?
这是关键... |
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| | | | | | | 楼主还有一个前提条件:
两者都是处在CCM模式,只是连续的深度不同而已. |
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| | | | | | | | | 您实际测试过?有什么好的方法吗?
对于铁损的计算分析准确性,一直是困扰我的一个难题,如果能方便测试出就好了:
1.通过温升或者通过直接测量损耗,似乎还有办法;
2.但测试铁损感觉有难度,
比如本列,即使在铁损不变的情况下,
铜损似乎已经改变了,
因电流的波形改变了,有效值似乎也会有变化,
通过整体损耗难以说明铁损的情况;
3.并且似乎铁损不仅对磁场变化率敏感,对温度也有些敏感。
所以在我做损耗理论上计算的时候,相对于铜损的计算;
我更怀疑铁损计算的准确性;
4.不妨介绍一下测试方法... |
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| | | | | 这个问题放在CCM PFC电感设计过程中去考虑吧。
只看部分步骤,大家容易被迷糊。 |
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| | | | | | | | | 磁场变化率ΔB
不是吧??公式里的ΔB是 磁感应强度的变化范围。和率关系不大吧?
我认为ΔB是不变的,电感小的更不容易饱和,电感量大的铁损大,手上正做一个PFC,我实测后看看吧。。 |
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| | | | | | | | | | | | | 测试了一下,
110Vac输入,输出360V,179W.
L=260uH时, PF=0.988, Pin=187.4W
L=475uH时,PF=0.984,Pin=188.2W
电感量小的效率要高0.8Watt
电感电流峰值DELTA I 前者为960mA,后者为580mA.(这里没有考虑低频分量,因为没有电流探头) |
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| | | | | 我再次谈一下对这个问题的我个人的一点肤浅的不确定的理解:
1. 首先从PFC的工作模式来谈(Ton是否不变):
1) 楼主讲工作控制方式为定频,且工作在CCM模式下,即两种情况下都工作CCM模式;
2)因只有定频且工作在CCM,并且都要工作在CCM模式,我们才能说两者相比Ton没有改变;
3) 但是电感变小,电流的变化量增大了,电流的连续深度减弱了。
2. 再从电感的改变来谈core loss,首先看看条件:
1) 楼主定义的条件是,仅通过气息来改变电感量;
2)Core的损耗:
包含两部分滞损和涡损,两者都对频率和B的变化量敏感还有温度;
所以我们才来谈论B的变化量的问题;
3) 所以问题归结为B的变化量有没有变,是变大还是变小了?
A观点:I变B一定跟着变;
B观点:I变B未变;
C观点:到底B变了还是没变?…
4) 我前两天:
a. 已经从VT=BNS这样的式子来判定B没有变(注:B和I指变化量)
b. 从磁滞曲线来解释,为什么I变了,而B可以不变;
5)我今天换一个角度来谈:
a.HcoreLc+HairLair=NI推出:
(Bcore/(u0*ur))(Lc+urLair)=NI推出:
Bore=NI*(u0*ur)/(Lc+urLair)
b.从电感定义:
L=u0urN*N*Ae/(Lc+urlair)
c.结合a和b得:
Bcore=N*I*L/(N*N*Ae)=LI/(N*Ae)=VTon/(N*Ae)
以上其实还是Faraday’s Law;
只是中间加入了I的变化,来进一步解释为什么I变了而B可以可以不变;
因I变了,但同时L也变了,所以B可以不变。
6)只是不知道我的理解是否有隐藏我没有注意的错误;
附:气息虽没有影响Core loss ;但对整体loss是有影响的,像提到的因边缘效
应,对Winding Loss的影响。 |
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| | | | | | | | | 兄台请详细讲讲 ;
这也是我我在29楼的最初讲在理论上从B来考量好像损耗不变;
但工程上是否一定不变那?
我也深刻怀疑,但以我的水平和理解又讲不出来... |
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| | | | | | | | | | | 我知道气息产生的边缘效应对Winding loss有影响;
所以对于大气息,我们在绕制时要对气息处进行考虑... |
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| | | | | | | | | | | yu版谦虚了。
ΔB确实是不变,但B场的分布变了,气隙处的磁力线(边缘磁通)溢出多少,直接影响磁芯在气隙处的涡流损耗,当然对线组损耗的影响,已是耳熟能详了。 |
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| | | | | | | 1.因对B及ff和T敏感,现在我了解一般的方法通过此来拟合损耗,
这同时也说明对core loss的理论计算我们还远没有吃透;
而我对此的认识和理解,更是连幼儿园大班都没有达到...
2.所以,现在讨论的问题也仅仅基于讨论B的变化量,来讨论损耗的;
其实是有些片面的...
3.而实际上损耗影响,还需要进一步探讨或者大师的深入研究才能明朗;
这也是我想进一步学习的方面...
4.在实际设计时,总感到磁性元件的算耗很难估计准确,猜想更多的是铁损的不准确...
5.希望大家继续探讨... |
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| | | | | | | | | 根据datasheet 的Core loss 曲线来估算磁损,有时误差可达30%或更大。 |
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| | | | | | | | | | | | | 首先,原始的datasheet 数据有多可靠?
它是用正弦波双极性激励下,测量某一个形状某一个尺寸的磁芯的损耗,而得出的typical 值,
能不能保证,不是正弦波的单极性激励,其他形状尺寸的磁芯,得出的损耗就是同一个值? |
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| | | | | 这个问题很难,PFC电感的B值显然有两个分量,一个工频的倍频,一个高频。高频的deltaB不会有大的变化,但低频的Bm会明显减小。这样需要考虑,在不同偏磁条件下,磁材相同deltaB相同频率的损耗是否一样?至于高频电流引起的线损或者气隙处的损耗肯定是电感量小的偏大。如果实验验证还需要考虑开关管的电路设计偏向开关损耗还是导通损耗,开关时开通大还是关断大,否则光看整机效率恐怕说明不清楚问题。
期待早有结论。
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