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未解决

PFC电流取样引脚RC匹配

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chuxuezhe
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  • 2021-11-12 18:09:51
10问答币
电源输出1.5kw,前级用UCC28180做的PFC,频率120K,电感为250uH的铁硅铝磁环,电流取样为为10mR分流器,通过如图RC组合连接到芯片电流检测引脚,R为220Ω,C为1nF,时间响应常数为220ns。最近做出样品20个进行各种测试,发现其中有一个刚刚上电的时候便烧了管子,会是什么原因导致呢?有没有可能是电流采样引脚这个RC组合不合理导致?


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谢开源
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LV10
总工程师
  • 2021-11-12 18:21:18
 
会不会上电电感饱和了?电感有没有并二极管?上图好分析些
chuxuezhe
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LV8
副总工程师
  • 2021-11-13 10:06:49
 
就是最普通常见的单路PFC电路了,电感上有并联有二极管10A10接到电解电容正端,而且这个电路试过在低压176VAC的时候突然超载到2.5kw输出PFC电感依然没有饱和可以正常工作,说明PFC电感的扛不饱和的能力还是比较大的。查看了这个芯片手册,发现这个电流检测引脚内部PCL写着“300ns leading edge blanking”,指的是300ns前沿消隐的意思吧!所以有些怀疑是不是前面RC时间常数200ns是不是还是有些临界,导致异常工作状态时不能及时快速触发PCL保护管子。



UCC28180.pdf (1.72 MB, 下载次数: 8)



谢开源
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LV10
总工程师
  • 2021-11-15 07:30:55
 
这么大功率是不是单管还是并管?不是过流就是过压损坏的,只能抓电压电流波形来看
chuxuezhe
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副总工程师
  • 2021-11-15 10:44:31
 


原理图****部分是这样的,看看有什么不妥。
chuxuezhe
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副总工程师
  • 2021-11-15 14:21:54
 
请各位指导一下,谢谢
谢开源
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总工程师
  • 2021-11-19 07:30:37
 
原理图没有什么不妥。抓波形才能看出是干扰还是其他问题
chuxuezhe
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副总工程师
  • 2021-11-19 10:50:13
 
这个驱动芯片内部只有一路图腾柱输出,驱动峰值电流支持6A,芯片6/7两脚是短接在一起的,然后输出对两路MOS,这个一路PWM一分为二的做法会不会带来潜在隐患问题?
两路MOS是对称布局的,驱动走线也相对还是比较对称,机器是在正常运行的时候坏了,后来检查其中一只MOS  DS之间短路了。

chuxuezhe
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副总工程师
  • 2021-11-19 10:55:31
 
示波器触发模式下测试了PFC软启动的PWM波形和管子Vds波形,看出启动瞬间Vds和Vgs没有什么异常,如下图:
1.启动瞬间的前三个Vgs和Vds波形
2.第一个波形展开,驱动有些少震荡
3.正常满载时20M带宽下的Vgs和Vds波形
4.正常满载时不限带宽的Vgs和Vds波形










谢开源
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总工程师
  • 2021-11-19 18:30:42
 
启机波形问题。再抓短路时波形有没有问题?要看修好的机子的波形
如果还是没问题,那只能是生产工艺问题:如锡渣短路打火
chuxuezhe
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副总工程师
  • 2021-11-19 20:19:28
 
故意将输出400V和GND短路然后测试Vds和Vgs?
chuxuezhe
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副总工程师
  • 2021-11-19 20:22:21
 
麻烦帮忙看一下14楼,我总觉得对这个一分为二的驱动方式有些不够踏实的感觉,有人建议我在两个管子的GS之间并入一个102的电容防止某些异常工况下驱动振荡导致炸管,他们说在并联的时候这个102电容尤为重要;也有人建议在管子D极套入一个小磁珠。

谢开源
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总工程师
  • 2021-11-20 13:17:58
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做到对称走线是没问题的。但是Mos 要用一批的,散热器装配也要均匀。
YTDFWANGWEI
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  • 2021-11-15 16:48:48
 
300nS那个指芯片内部有一个300nS消隐的电路,应该是发出驱动信号后300nS内的电流信号不起作用。
chuxuezhe
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LV8
副总工程师
  • 2021-11-15 21:15:58
 
应该是这个意思,防止上升沿杂波误触发,但是也不可能就在这300ns内刚好发生电流异常,PCL保护起不到作用从而电感饱和干掉MOSFET吧?版主你认为会有什么其它因素导致?
YTDFWANGWEI
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  • 2021-11-16 09:22:10
 
就只坏MOS管?二极管坏没坏?
chuxuezhe
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  • 2021-11-16 11:46:42
 
是的,二极管没坏,就坏了其中一只MOSFET管子,想了很久都不知道是哪个潜在的隐患导致烧管子。
chuxuezhe
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LV8
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  • 2021-11-16 11:50:52
 
频繁开关机测试也试过,0.5S做一次输入交流通断,时间继电器控制,也没有问题,
chuxuezhe
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  • 2021-11-17 10:25:54
 
还会有哪些可能的情况导致烧管?请各位帮帮忙
xkw1cn
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  • 2021-11-19 22:38:04
 
除了坏管子;还有啥元件损坏?
恕我直言,这事多半与产线有关。只要样机能通过标准流程,那么;坏机与你无关。
从你提问看;解决手段超出了你的能力和职责。只是大家觉得;相关人员中;你有能力解决而对别人是黑盒。
唉!技术人员比较累啊!有时得鼎锅。
chuxuezhe
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  • 2021-11-20 09:30:14
 
就是坏管子了,而且是其中一个。顺便请教一下版主:
1.这个驱动芯片只有一路PWM输出,然后一分为二的驱动做法会不会带来潜在隐患?我之前没有这样用过,会用两路图腾柱的驱动芯片;

2.并联的两个管子GS之间是否需要加贴片电容防止某些意想不到的工况引发的驱动震荡导致炸管?

3.这个开关频率120K是不是太高了,对于两管并联存在风险?

谢谢!



xkw1cn
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  • 2021-11-20 21:03:54
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如果设计有原则错误;不可能出现低概率炸机。至少有过热等异常现象。
chuxuezhe
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  • 2021-11-21 16:35:11
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我个人就有些担心是设计原则上存在隐性bug,导致莫名其妙的出现一些异常,而且在实验室很难重现:
1.PWM一分为二的做法说实话我心里是有些虚的,只是现在PCB都出来了一下子不好改;
2.准备在每个管子GS之间也就是那个10K泄放电阻上并联一个510pF电容来防止驱动振荡;
3.打算将开关频率120K降低为65K,并联管子可能不太适宜采用这么高的开关频率。

xkw1cn
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  • 2021-11-22 00:04:59
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设计可靠性在整个产品链条中只有20%左右权重。。。虽然是其它80%的前提条件。
虽然不能保证20%里没有问题,但仅从20%找到全部问题,你觉得有可能吗?
个人观点认为,这就是企业与作坊的本质区别!
chuxuezhe
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  • 2021-11-22 09:13:00
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感谢版主,你的意思是我上面提及的一些认为的潜在性问题,并不算bug,是这样吗?
xkw1cn
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  • 2021-11-22 22:17:34
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是的。
chuxuezhe
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  • 2021-11-23 08:44:42
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好的,谢谢指点
晴366
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并了电容 那温度不是更高呀
stevenqian
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SIC MOS发来 贺电!
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MOSFET并电容?
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