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| | | | | CS方式是简单,但信号幅度大(1V左右),因此损耗大
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| | | | | | | | | 检查方式不一样,第一种是峰值电流检测,第二种是平均电流检测。电流检测方式不一样,控制方式就不一样。
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| | | | | YTDFWANGWEI- 积分:109912
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积分:109912 版主 | | | | | | |
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| | | | | | | | | 电压数量级差别(说明书有说),相同电流功率也就数量级差别。
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| | | | | YTDFWANGWEI- 积分:109912
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积分:109912 版主 | | | | | | |
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| | | | | | | | | | | | | 大佬能否详细讲一讲呢,我还是没理解李版所说的,功率电压不是同一个数量级的问题
像ADI的,在电感后面串电阻检测,有个缺点:SENSE+/SENSE-的耐压,限制了输出电压。 既然他们这个做了,肯定是有优点的,想不明白优点是什么。
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| | | | | | | YTDFWANGWEI- 积分:109912
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积分:109912 版主 | | | | | | | | 李工的意思是,接地取样的,取样电压信号是1V,而串联电感取样的是几十mV,这不就是不是一个数量级吗?而实际是接地取样的,有的也是几十mV。
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| | | | | | | | | | | | | | | 关键词:轨到轨
除非轨到轨,否则很难做到几十mV,因此一般是1V左右。
这事关基准和精度:431是2.5V,432是1.25V,一般芯片是1V,也有比如0.9V的,再低就没有精度了。
王工说的几十mV我没用过,一般的PWM芯片用不起轨到轨技术。
下图的几十mV也不是轨到轨,而是抬高到1.5V差分输入,运放的典型应用。
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| | | | | | | | | | | | | | | | | 1.对比了下规格书,发现基准电压的差异了,1.25V和50mV的数量级差异,将来会引起功耗的数量级差异
2.弱弱的问下,造成基准电压差异的原因是这个比较器,是否是轨到轨导致的吗?
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1.png
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| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 仔细看了看规格书,纠正下上面的错误,TI的是120mV,ADI的是50mV.
TI芯片内部的电流放大器的放大倍数是10倍.
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| | | | | TI的采样接在下管,只有续流的时候可以检测电流。
因为对地采样,相对容易实现。
ADI的采样与电感串联,可以完整采样电感电流。
但因是浮地采样,对IC内部设计要求较高。
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| | | | | | | 嗯嗯,理解了,有得就有失;
ADI:输出电压受到检测引脚耐压的限制,但是损耗更小,效率更高,IC成本也高
TI:输出电压范围可以做到更广,但是电流检测部分,效率损失,IC成本低,
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| | | | | 第二张图类似于差分运放,采集的电流受地信号影响会小一点。 |
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| | | | | 您这属于电流采样的高端采样和低端采样的差异区别吧?
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