| | | | | 凌晨都在发帖,精神可嘉。
这种是可以的,只要你死去时间大于Trr就ok了。 |
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| | | | | | | LLC 半桥MOS管的体二极管Trr原设计为1300-1500ns,很明显这个设计从可靠性来讲是失败的。
ZVS对MOS的体二极管Trr要求很高的,死区和Trr在可靠性上有着微妙的关系。 |
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| | | | | | | | | 哦,请教下,选择的LLC mosfet 有那些考虑因素? |
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| | | | | | | | | 为什么? 在MOS开通的时候,IM先将COSS电荷抽干,然后继续在body-diode内部续流,等此MOS的驱动为高时,谐振电流流过MOS的沟道,此时
body-diode自然关断,根本没有反向恢复的机会,trr大点又何妨? |
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| | | | | | | | | | | 您还只是停留在理论上啊,实际工况的电源能这么理想化吗?飞兆有篇应用报告有论述体二极管的TRR和MOS实效问题的。
其实基于ZVS对MOS的特殊要求,各大厂家都在生产和研发带快速恢复体二极管的MOS,infineon的CFD系列,APT的F系列,ST的加强型体二极管系列,等等。。。。 |
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| | | | | | | | | | | | | 是的,只是理论上面的分析,那请你说说那个TRR怎么产生的,这么能测到,洗耳恭听。 |
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| | | | | 反向恢复时间更短之后,你需要相应更改死区,不然ZVS条件会破坏! |
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| | | | | | | 关于这个时间,个人是没有办法来为你做选择。但从先前的实效案列,还是建议你使用CFD系列的MOS,提高可靠性! |
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| | | | | | | 真没看出来,TRR对ZVS有任何影响,死区400NS ,TRR=900NS,
照样ZVS.
为什么回有TRR的时间,请讲清楚??? |
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| | | | | | | | | 个人看法,不知对不对:
死区时间里因为IM的储能会大于Mos的Coss中的能量,mos体二极管会在开通时刻是正向导通的,因而会有TRR的问题。但是,由于Mos的导通压降很小,即体二极管上的反向压降很小,因此TRR也会很小,不会影响ZVS。
关键是Diode的TRR是和反向电压密切相关。 |
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| | | | | | | | | | | “反向压降很小,因此TRR也会很小”,都是些什么人呀?误人子弟。 |
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| | | | | | | | | | | | | 是 就你知道 ,二极管反向恢复与电流有关。就算别人的说法是错了,这是一个大家共同讨论提升的地方,想您这样的大佬。不参与讨论就罢了,还在开别人笑话,你算什么人啊?
你是明白人,那你拿出你的理论依据啊,。就算你是高手,你只会评判,笑话别人,...................................., |
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| | | | | | | | | 我想選Trr小的原因應該如下,
開機的時候因為對電路上的電容充電, 此時Resonant current會在一個開關週期內換相兩次 與 轉換器不小心進到ZCS的時候, 這時候都會因為Trr有Short-circuit的現象, 但周期可能頂多兩個, 所以這時候Trr越大, 開關流過的短路電流時間也越長, 對元件會有損壞的疑慮.
Trr的時間只要小於一半的切換頻率, 元件又撐得住Resonant current的情況, so what, 只是把原本走Rdson的電流, 改走Body diode, 當然實際上不會這麼誇張, 只是要把Trr牽扯到會影響到ZVS特性, 我也是還沒想到這種特殊的電器條件, 還請指教. |
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