如何用源表快速扫描光电器件或材料的电性能参数？

说到光电器件与材料，你会想到什么？是被誉为“理想能源”的太阳能电池，还是被称为“万物之眼”的光电探测器？在我们的日常生活中，光电器件的应用非常广泛。从电子产品的显示屏，到指纹解锁和面部识别，从汽车自动驾驶到太阳能电池板，再到大火的人工智能和AI，处处可见光电器件的身影。

光电材料是整个光电产业的基础和先导，光电材料已由材料发展到薄层、超薄层及纳米微结构材料，并正向集材料、器件、电路为一体的功能系统集成芯片材料、有机/无机复合、有机/无机与生命体复合和纳米结构材料方向发展。作为科学领域研究的核心之一，科学家对光电器件和材料的研究从未停止。

近年来，柔性显示屏、电子皮肤、有机电致发光器件（OLED）、有机光伏器件（OPV）、有机场效应晶体管（OFET）和金属氧化物半导体场效应管（MOSFET）均取得突破性进展。

在光电器件和材料的研究和应用中，电性能表征是关键性的环节之一。实施分立器件特性参数分析的最佳工具就是数字源表。数字源表作为**的电压源或电流源,可输出恒压、恒流、或者脉冲信号,还可以当作表,进行电压或者电流测量;支持Trig触发,可实现多台仪表联动工作;针对光电器件单个样品测试以及多样品验证测试,可直接通过单台数字源表、多台数字源表或插卡式源表搭建完整的测试方案。

“五合一”高精度数字源表（SMU）可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具。不论使用者对源表、电桥、曲线跟踪仪、半导体参数分析仪或示波器是否熟悉，都能简单而迅速地得到精确的结果