| | xkw1cn- 积分:131466
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积分:131466 版主 | | | 驱动搞大点不就可以了?
另外;不是越快损耗越低,适度即可。
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| | | | | 找个器件看下规格书就可以知道,一般nF吧;
输入电容不影响导通损耗,影响开关损耗;
导通损耗降低主要还是降低电流或者换好点的管子;
不要串电感。 |
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| | | | | 输入电容相对比较大一点,一般影响开关损耗,特别是米勒电容Cgd。
不影响导通损耗,影响导通损耗的主要是导通电阻Ron,选择Ron更小的MOS,导通损耗更小,主要留意Ron随温度的变化曲线(改善散热,降低MOS的温升,也有利于减小导通损耗)。
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| | | | | | | | | 这个有很多文章可以借鉴,从题主的描述来看,可能还不太熟悉MOSFET,建议多读读MOSFET开关过程的原理。这个可能需要比较长的时间。简单讲一下:
1. 导通损耗。
这个完全看MOSFET本身的特性,就是Rds(on),因为损耗就是I^2*Rds(on)。想降低只能选Rds(on)小的。
2. 开关交越损耗。
加快开关速度可降低这部分损耗,怎么降低呢,主要加强驱动的电流。但加快速度也常伴随着EMI问题。
3. 寄生电感损耗
导通过程中寄生电感会储能,并在关断时被损耗。开关速度越快,一般这个损耗越大。
4. Coss损耗
MOSFET的Coss充电过程的损耗。
5. 体二极管反向恢复损耗
需要反向恢复快的管子。
一般而言,前两项是大头,不过,寄生电感的问题常会是管子应力瓶颈。
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| | | | | | | | | 选择开关性能更好的MOS或者选择GaN,主要关注米勒电容Cgd和栅极电荷QG,这两个参数越小,开关切换的速度越快,理论上开关损耗就越小。如果开关管不能更改,可以减小栅极驱动电阻,增加栅极驱动电流的大小,也能减小开关损耗(以上分析,基于硬开关而言)。
如果从电路拓扑上来说,使用准谐振或者软开关技术,可以显著减小开关损耗。
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