金凯博KC- 3105 功率半导体器件动态可靠性 HTRB/DHTRB测试系统

现代宽禁带功率器件 (SiC, GaN) 上的开关晶体管速度越来越快，使得测量和表征成为相当大的挑战。与 HTRB高温偏置试验一 一对应，AQG324 该规定了动态偏置试验，即动态高温反偏（DHRB，Dynamic high-temperature reverse bias）。功率半导体器件测试系统

金凯博KC-3105 测试系统中可同时完成HTRB和DHTRB测试，整体架构模块化，通讯协议、通讯接口等采用统一标准，便于后期扩展和维护。该系统集成度高、应用覆盖面广，系统采用软、硬件一体化设计且功能丰富，在保证系统稳定运行的同时，可以快速满足功率半导体可靠性测试需求。功率半导体测试系统

金凯博KC-3105系统包含 ：硬件平台 + 实时软件，其中硬件平台包含：多 通 道 高压脉冲电源、电加热测试夹具、费思FTP3000恒流源、费思FTP宽范围高压电源、测量采集控制模块等，主要特点如下:

1、高压高频高精度脉冲源：dv/dt>50v/ns、频率50KHz；

2、高精度测试，电流分辨率10pA，电压分辨率100nV；

3、支持多参数测量：Vsd电压、Vgsth电压、Rds电阻、Igss漏电流、Idss漏电流、温度；

4、具备数据管理功能，上位机可实现数据曲线、报告及自动保存；

5、高效率80通道测试、每个通道**控制，故障断开及时，互不影响；

6、保护功能：具备器件防呆，对于带电、高温开箱、测试参数异常、驱动电路异常可实现保护功能，

7、具备测试夹具具电子化管理功能，集成电加热功能测试夹具；

8、内部模块化设计，以及自我检验功能，可靠度高；更多资料请联系：张** 15875595917

9、支持支持扩展外接标准仪表，客制化；功率半导体测试系统