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输入交流端接触不良导致MOSFET烧毁的可能性

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chuxuezhe
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LV8
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  • 2024-3-13 14:42:40
10问答币
请问一下大家,如果输入端交流接触不良,那么导致在老化过程中发生烧毁后级全桥LLC的管子可能性有多大?前级还带有PFC的。
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zhuliu09
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LV8
副总工程师
  • 2024-3-13 16:15:52
  • 倒数5
 
这个要看你LLC电路的保护措施做的如何了。最起码得有最低开关频率限制。否则输入交流接触不良,导致输入丢失几个周期,PFC的输出电压掉到很低的值,LLC仍在工作,为了满足增益的需求,LLC的工作频率会降低,如果没有最低工作频率限制,LLC可能进入容性区,导致LLC桥臂的管子损坏。
chuxuezhe
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LV8
副总工程师
  • 2024-3-14 08:43:24
  • 倒数4
 
不是这个意思,指的是输入端接头接触不牢固导致的触点打火,这个电火花给里面管子带来的损伤可能性
ardtek
  • ardtek
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LV6
高级工程师
  • 2024-3-15 08:15:00
  • 倒数3
 
感觉楼主已经有真实案例在手了。不妨分享一下?
chuxuezhe
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LV8
副总工程师
  • 2024-3-15 10:32:17
  • 倒数2
 
是的,老化过程中烧了全桥后面两只MOS,然后分析不良机器,发现输入端交流触点有烧黑现象,感觉存在接触不良打火。
nc965
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版主
最新回复
  • 2024-3-16 13:34:57
  • 倒数1
 
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