|
| | | | | | | 示波器没问题。如图,框中的尖峰随母线电压升高而升高,300V时尖峰高达12V(驱动高电平为15V),改驱动电阻,调GS处的RC,尖峰有所降低,但功率上升时MOS发热又升,所以改此处不能解决根本原因。
|
|
|
| | | | | | | | | 如图,“红框1”处当上下管开关时的VDS波形出现明显交叉时,这时就不会在驱动信号VGS产生尖波干扰;“红框2”处当上下管开关时间过快,VDS波形几乎重叠时,这时必定在VGS上产生尖波干扰。
现请教一下大师们,在全桥逆变MOS管硬开关时,有没有办法(或改什么器件参数)来改变“红框2”处上下管开关时间过快的问题,即使其变为“红框1”处的波形!
|
|
|
|
| | | | | | | | | | | | | 有加二极管,驱动电阻加到100R后MOS管在1000W时就发热比较严重,只能改回47R
|
|
|
| | | | | | | | | | | | | | | 把驱动加大到100欧,关断电路使用9012试试,用PNP型三极管关断,关的应该快些。现在占空比是多少,可以48%,把死区留够,拓扑里加隔直电容了吗?
|
|
|
| | | | | | | | | | | VDS未见尖峰毛刺,框2的波形比框1更高效率(至少2个点),建议框1向框2看齐
至于VGS毛刺,大部分应该是背景噪音,少部分是弥勒噪音,只要不影响VDS,不用整改,没有经济效益。
|
|
|
| | | | | | | | | | | | | 您好,您说的VGS尖峰毛刺没有影响吗,我现在母线电压调到330~360V时,测试时出现右桥臂无规律的炸管,监测波形只发现VGS上的尖峰毛刺,不知道右桥臂无规律的炸管是否与此有关,谢谢!
|
|
|
| | | | | | | | | | | | | | | VGS尖峰毛刺可能是假的,即使是真的,只要不影响到VDS(上没有对应的波形)就不必理会。
从你的波形看,VDS与VGS存在可观的时间差异,要找到原因,否则随着占空比的提高,很容易湮灭安全死区,造成直通炸机
|
|
|
| | | | | | | | | | | | | | | | | 您好!驱动信号VGS是留有400nS左右的死区,但VDS导通却不控VGS控制(上管关断必须要等下管导通),不知是哪里出了问题,帮忙分析一下,谢谢!
|
|
|
|
|
|
| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 拿掉GS电容后,VGS上的毛刺尖峰更高,15V的电平,母线电压300V时尖峰就到了12V(怀疑右桥臂炸管可能与这个尖峰有关),C23有什么问题?谢谢!
|
|
|
| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 那就加大GS的电容,改成222或者332,截止电路换PNP型三极管试试,怀疑炸管是直通引起的,把示波器的各个端口同步一下,看看是否有延时差异。然后再测试每个臂上下管的VDS波形,看看是否确实存在直通现象。 |
|
|
| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | VGS毛刺尖峰更高有什么关系?它又不能卖钱,不炸机、高效率才能卖钱,明白?
C23的问题是它在拓扑里扮演什么角色?参阅: 逆变电感设计 |
|
|
| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 谢谢,滤波的LC是按开关频率等计算得出的,应该是没什么问题,当前除了测到VGS尖波异常,其它没发现有异常,但仍有无规律炸管。 |
|
|
| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 我的观察,尖峰没有异常,弥勒异常、上升下降沿异常,以及由此造成的死区异常。C23也异常,拿掉
|
|
|
| | | | | | | | | | | 上灌的VDS怎么不跟着VGS下降而升高,反而跟着下管的VGS,你上管VDS是怎么量测的
|
|
|
| | | | | | | | | | | | | VDS波形是示波器探头接在IGBT的C、E极,您说到的VDS与VGS不同步的问题,也是我分析不出的问题 ,上管关断要等下管导通,而不是受VGS控制,能否帮忙分析,谢谢!
|
|
|
|
| | | | | | | MOS管的DS调过RC,电容从470p~10nF都试过,对VGS的尖波能减少一点(12V降低到11V),但不能满足要求,且RC再加大会增加损耗,但对尖波基本没法再有效降低。
|
|
|
|
|
| | | | | | | | | | | | | 选内置快恢复的IGBT,还有走线搞好点,驱动电阻在可接受范围加大
|
|
|
| | | | | | | | | | | | | | | IGBT管子换了几种,走线也调过(新改PCB),驱动电阻调到62R算是比较合理了,但尖峰在母线电压到360V时仍有10V左右,测试过程中右边桥臂无规律的炸管,不知与这尖峰干扰是否有关,谢谢!
|
|
|
|
|
| | | | | | | | | | | | | | | | | 1.上管导通时刻,下官承受的是母线电压,既此刻上下管之间的电压为BUS,当上官关闭后,上管VDS电压为VBUS-VBUS=0,所以你的上管VDS电压没有变化2.上管关闭后,下官开通时刻,上下管之间的电压由VBUS变为0,所以你上管VDS电压开始变为VBUS
3.由于上管和下官之间的电位由BUS变为0 ,导致上官寄生电容DS GS 与 DG有个充放电回路,引起VGS瞬间出现电位升高的情况
清楚了这些状况后,要想办法让动态地发生突变时变化慢一些,驱动线路要短,再或则换个不同参数的管子,这种情况时一定会存在的,只要这个电压不引起管子二次导通,不超过Vth就可以了,你的驱动芯片可以换成带钳位功能的光耦,电流源受影响会比较小
|
|
|
| | | | | | | | | | | | | | | | | | | 谢谢!VGS上的毛刺尖峰与您分析吻合,是上管关断时结电容导致,换过几个品牌的管子,效果最好的,VGS上的毛刺高度仍有10V以(母线360V时)
|
|
|
|
| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 我认为负压关断的目的就是防止串扰引起二次导通的措施 |
|
|
| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 管子的驱动内阻对这个尖峰影响也挺明显的,你可以考虑管子选型的时候选择驱动内阻小的管子。
|
|
|
| | | | | 这个黄色是上管的驱动,那个关断期间的尖峰,如果是真实存在的而不是测试的干扰尖峰,可能会直通炸管子了
|
|
|
| | | | | 一个是加图腾柱驱动试试,不过DS引起的驱动尖峰图腾柱理论上没啥抑制作用,但是可以保护你的驱动芯片。 另外一个就是 ,驱动加负压,尖峰虽然还有,但是可以压制到0V。 还有就是,用米勒钳位芯片来驱动。 理论上降低DV/DT能有效降低串扰尖峰,但是缺陷就是MOS损耗变大。
|
|
|
| | | | | | | 谢谢!问题已经解决了,导致高电压炸管与GS上的毛刺无关。是PWM整流时产生直流分量过高,调整PID参数解决了。
|
|
|